Wafer晶圆表面颗粒缺陷检查灯UV-85
UV-85Y高照度晶圆LED检查灯；晶圆颗粒缺陷检查灯；Wafer表面检查灯
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯UV-85系列是一款黄绿光表面检查灯（或者是白光），检测灯的原理利用适合的LED灯源，通过光学镜片折射出特殊波长的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点，取代传统的照明设备和光学系统机台，直接通过照明光线和肉眼，观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，极大的节省了一般工厂的采购成本。UV-85-Y黄绿光检查灯采用人眼最敏感510-590NM之间波长光，来做最简单与明确的判别，可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光，几乎可检测出所有尘埃，大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达15万LX，最小可以检测1μ的表面脏污，比传统的检查灯，效用增强10倍.。（注意：UV-85系列检查灯的亮度最高只有15万LX ;如果有更高的测试要求请使用UV-89和UV-86系列的检查灯，UV-86亮度最高有30万LX,UV-89的最高亮度是40万LX）(底部有视频讲解)。
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯UV-85参数规格
型号：UV-85Y高照度晶圆LED检查灯；晶圆颗粒缺陷检查灯；Wafer表面检查灯
光 源：20W 高亮度进口LED加定制的光学镜片； LED平均寿命是30000小时
照度：距离40cm → 9万lx；距离30cm → 15万 lx（我们掌握了核心技术，我们可以提供不同照度的平行灯，它们可满足不同客户的要求）
照射面积： 8-16cm直径的光圈 在40cm的距离（通过调焦距调光）
调光方式： 无极调光：从0% ~ 100%；消耗功率：20 W
电源：采用110-220V电源供电（交流供电），可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性： > 90 ％
产品尺寸：53 * 220mm; 净重： 0.53KG(不含配件
| 产品型号 | UV-85-W白光晶圆检查灯 | UV-85-Y黄绿光晶圆检查灯 | 备注 |
| LED的数量和规格 | 1个进口20W 6000K LED 加定制的光学透镜和定制滤光片 | 可以按照客户的要求定制 | |
| 通常6000K白光，510-590NM黄绿光；有特殊要求的可以定制365NM;455NM;595NM;625NM的波长 | |||
| 检查灯的波长 | 6000K 白光 | 510-600NM黄绿光 | |
| 检查灯的亮度 |
8万LX→距离40cm；
15万LX→距离30cm； |
9万LX→距离40cm；
15万LX→距离30cm； |
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| 我们掌握了核心技术，我们可以 提供不同照度的检查灯，它们可满足不同客户的要求 | |||
| 照射面积（单位MM） | Ø 8- 16cm 在40cm的距离 | ||
| 调光方式 | 无极调光：通过调光器0-100%调光； | ||
| 使用寿命 | 30000小时 | ||
| 尺寸和净重 | 53 *220mm; 净量：1180克不包含配件 | ||
| 可选配件 | 防护眼镜 | ||
UV-85晶圆颗粒wafer缺陷检查灯特点
1.1个大功率20W LED,.真正冷光源，亮度达到15万LX;照度相当100瓦的汞灯
2.LED使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
3.使用定制的光学透镜和滤光片，检查灯的均匀性能达到90%以上；
产品的光均匀性及光斑大小，经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光，人眼易感知且又不伤眼，可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子；
5. 合理的外观设计，，能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源；
6：可选择不同波段光源：365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波；
白光：刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光：微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃，70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光：微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯UV-85应用
LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、 玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查、 液晶玻璃、微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石
