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UV-89半导体wafer白光晶圆缺陷表面检查灯 黄绿光表面检查灯

UV-89半导体wafer白光晶圆缺陷表面检查灯 黄绿光表面检查灯

UV-89半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯 黄绿光表面检查灯
半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯UV-89是一款黄绿光表面检查灯(或者是白光),人眼敏感的黄绿光照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼很容易识别出半导体(晶圆/晶片)表面的缺陷,提高工作效率。UV-89可精确检查到1um以下的瑕疵缺陷,拥有有绿光和黄光2种颜色的复合光,光源强度可达40万LX,比传统的检查灯,效用增强10倍!UV-89除了可以应用在半导体晶圆晶片表面瑕疵检查,还可以检查例如:液晶玻璃、液晶屏幕、汽车玻璃、基材……表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。

半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯UV-89
半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯UV-89参数:
型号:UV89-Y 光 源:30W 高亮度进口LED加定制的光学镜片; LED平均寿命是30000小时
照度:距离40cm → 28万lx;距离30cm → 40万 lx(我们掌握了核心技术,我们可以提供不同照度的平行灯,它们可满足不同客户的要求)
照射面积:  9-20cm直径的光圈 在40cm的距离(通过调焦距调光)
调光方式: 无极调光:从0% ~ 100%;
消耗功率:30 W
电源:调光器(输入110-240V,输出12-24V,2A),可以24小时持续无间断工作。

平行光强的稳定性: > 90 %

产品型号

UV89-W白光晶圆检查灯

UV89-Y黄绿光晶圆检查灯

备注

LED的数量和规格

1个进口30W 6000K LED 加定制的光学透镜和定制滤光片

可以

定制

通常6000K白光,510-590NM黄绿光;有特殊要求的可以定制365NM;455NM;595NM;625NM的波长                                         

产品型号分别是:365紫外灯;UV89-455蓝色灯;G绿光检查灯;Y黄光的检查灯

检查灯的波长

6000K 白光

510-600NM黄绿光

检查灯的亮度

28LX→距离40cm

 

 

 

 

40LX→距离30cm

29LX→距离40cm

 

 

 

 

40LX→距离30cm

我们掌握了核心技术,我们可以 提供不同照度的平行灯,它们可满足不同客户的要求

照射面积(单位MM

Ø 9- 20cm 40cm的距离

调光方式

无极调光:调光器(输入110-240V,输出12-24V,2A

使用寿命

30000小时

尺寸和净重

尺寸:86 *200毫米; 净量:1180克不包含配件

可选配件

防护眼镜

半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯SL8900特点
1.1个大功率LED,.真正冷光源,亮度达到40万LX;照度相当200瓦的汞灯
2.LED使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
3.使用定制的光学透镜和滤光片,检查灯的均匀性能达到80%以上; 产品的光均匀性及光斑大小,经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光,人眼易感知且又不伤眼,可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子;
5. 合理的外观设计,无风扇式散热设计—机械散热,能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源;
6:可选择不同波段光源:365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波;
白光:刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光:微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃,70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光:微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。

半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯UV-89
半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯
代表高强度365NM紫外灯;
B代表455NM蓝光;G代表525NM绿光;
A代表595NM黄光;R代表625NM红光;
Y代表510-595NM黄绿光;
W代表4000-600K的白光

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