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XCX-110​穿透涂层存储数据超声波测厚仪

作者:admina来源:时间:2021-10-05 22:20:26浏览量:1535人阅读

  

XCX-110穿透涂层存储数据超声波测厚仪


关键词:超声波管道测厚仪 涂层测厚仪 工业LED观片灯 黑白密度计 紫外线探伤灯 多功能超声波测试仪 超声波探伤仪

 

超声波测厚仪可以测量金属材质、管道、压力容器、板材(钢板、铝板)、塑料、铁管、PVC管、玻璃等其他特殊材料的厚度;也可以测量工件表面有油漆层等带涂层的材料;也应用于制作业、金属加工业、化工业、商检业等检测领域。可以测量金属材质、管道、压力容器、板材(钢板、铝板)、塑料、铁管、PVC管、玻璃等其他特殊材料的厚度;也可以测量工件表面有油漆层等带涂层的材料;也应用于制作业、金属加关键词:超声波管道测厚仪 涂层测厚仪 工业LED观片灯 黑白密度计 紫外线探伤灯 多功能超声波测试仪 超声波探伤仪工业、化工业、商检业等检测领域。
简要介绍: 
存储型,存储型 1.分辨率0.01mm,彩色实时A/B扫描。 2.穿透涂层功能,被测材料表面油漆层不需要打磨,可直接测量工件厚度。 3.存储功能,可存储10万个厚度值和1000幅A、B扫描波形图。存储型,存储型 1.分辨率0.01mm,彩色实时A/B扫描。 2.穿透涂层功能,被测材料表面油漆层不需要打磨,可直接测量工件厚度。 3.存储功能,可存储10万个厚度值和1000幅A、B扫描波形图
主要功能: 
实时彩色A-扫描(Live Color A-Scan)
用户在屏幕上能直接看到彩色超声信号波型(或A扫描),这对于需要验证厚度读数是否正确的场合是比较重要的。许多情况会引发错误的厚度读数,根据波形能找到测量误差问题所在,然后根据波形需对增益(GAIN)、消隐(BLANKING)、闸门(GATE)这三个参数做适当调整,可得到较为正确的厚度读数。 
波形的用处:根据波形验证厚度读数,根据波形找到测量误差问题所在,根据波形寻求解决之道,根据波形调整参数解决测量误差问题。
增益调整(GAIN)
调整仪器对回波信号的放大倍数,允许以ldB 为单位手动增加或减少。这个功能适用对声衰减材料(比如金属铸件)的测量。
消隐功能(BLANKING)
使红色消隐条范围内的波形无效,可以略去影响测量的有害杂波,比如因材料表面粗糙或里面不均匀引起的噪声。
闸门可调(GATE)
只有回波高于闸门时,仪器才认为接收到了回波,才会有测量值。可见闸门可调的重要性,在应对低回波信号的应用中是如此(比如薄板、厚板的测量)。
红色箭头
A-扫描模式有一个红色箭头指示测量点,厚度读数就是该点的横坐标。它可帮助判断厚度读数是否正确,正确测量时,红箭头应该指向*个底面回波前。
范围(RANGE)
调整显示在屏幕上的波形范围,视觉上波形被压缩或展开。如果没有正确的设置显示范围,回波波形可能出了显示区域而看不到,但仍能正确地显示测量值。
平移(DELAY)
调整显示在屏幕上的波形的起始位置,视觉上波形被水平移动。如果没有正确的设置平移,回波波形可能出了显示区域而看不到,但仍能正确地显示测量值。范围和平移功能可将波形的任一部分放大显示在屏幕上。
实时彩色B-扫描(Live ColorB-Scan)
此系列测厚仪带时基B扫描功能。显示沿着探头移动轨迹的剖面图,用于观察被测工件的底面轮廓。并自动捕获一幅B扫描图像上的小值,由红色三角指示出小值的位置。通过移动指针还可查看B扫描图像上任一点的厚度值.
具有穿透涂层功能,不需要费时费力的去涂层工作了
我公司2005年推出了具有穿透涂层功能的XCX-103测厚仪,现在XCX-109同样具备了这一功能。该功能是通过测量基材的两个连续底面回波实现的。 该模式下其他功能:
1、免零点校准;
2、较高稳定性,测量值不受探头压力、耦合层厚度和工件表面灰尘污渍的影响;
3、没漂移。
其他的功能
差值/缩减率:差值模式显示实测厚度与预设厚度之间的差值变化。缩减率是计算并显示材料变薄以后厚度缩减的百分比,应用时因弯曲而变薄的金属材料进行测量。
大/小值捕获:屏幕上同时显示当前厚度值、小值和大厚值。
存储器、方便的存储功能
可存储100000个厚度值,是同档产品的20至200倍;采用栅格式存储文件,一屏可显示15个厚度值,并同时显示其在栅格中的位置,便于用户浏览所存的厚度数据;
存储1000幅A或B扫描波形,波形和厚度值可在同一文件中混存;
USB 2.0 (Full Speed)接口,DataView数据统计及管理软件。
穿透涂层存储数据超声波测厚仪XCX-110厂家技术参数:

显示屏:

2.4QVGA(320×240)彩色OLED屏,对比度10000:1

工作原理:

使用双晶探头的超声波脉冲/回波法和回波/回波

标准模式测量范围:

0.6至508毫米(0.025至20.00英寸)取决于所用探头、被测材料及表面情况

涂层模式测量范围:

3-80mm 取决于所用探头、材料、表面状况和温度

测量分辨率:

0.01或0.1mm(0.001或0.01in),

存储:

可存储400个文件,10万个厚度值和1000幅A、B扫描波形

单位:

毫米或英寸

增益:

实时可调

校准模式:

一点校准、两点校准

示值误差:

±0.05mm (25mm以下)    ±0.2% H (100mm以下)    ±0.5% H (100mm以上) 注:H为被测物厚度

测量更新频率:

每秒4HZ、8HZ、16HZ可选

材料声速范围:

500-9999m/s,0.0179-0.3937in/us

示值稳定性:

采用过零测量技术,厚度测量值不受回波强度材料衰减系 数、增益和闸门高度的影响,具有较高测量稳定性和准确性。

重复性:

±0.05mm

增益:

实时可调

显示模式:

厚度值模式,小/大值捕获模式,差值/缩减率模式

V路径修正:

V声程修正,补偿双晶探头的非线性度

工作语言:

中文、英文、日文、德文、法文五种语言可选择

报警设置:

大/小值报警,报警时动态改变厚度读数颜色

电源:

两节1.5V AA电池

操作时间:

两节AA电池,使用时间大于35小时

仪器关机:

可选5、10、20分钟无操作后自动关机,或只能手动关机

工作温度:

-10℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃

尺寸:

153mm×76mm×37mm (H×W×D)

重量:

280g(含电池)

标准配置:

测厚仪主机、标配探头、仪器箱、两节碱性电池、耦合剂 、操作手册、合格证、装箱单、数据通讯线1条、软件光盘1张


UM-5DL薄件超声波测厚仪 UM-5D高精度超声波测厚仪 PM-5D塑料超声波测厚仪 UM-4D玻璃超声波测厚仪 超声波测厚仪、黑白密度计、工业LED观片灯、超声波探伤仪、里氏硬度计、紫外线探伤灯、涂层测厚仪 

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