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半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯 黄绿光表面检查灯 白光表面检查灯

作者:admina来源:时间:2023-02-17 15:16:07浏览量:1033人阅读

  

半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯 黄绿光表面检查灯 白光表面检查灯

半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯是一款黄绿光表面检查灯(或者是白光),人眼敏感的黄绿光照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼很容易识别出半导体(晶圆/晶片)表面的缺陷,提高工作效率。可精确检查到1um以下的瑕疵缺陷,拥有有绿光和黄光2种颜色的复合光,光源强度可达40万LX,比传统的检查灯,效用增强10倍!除了可以应用在半导体晶圆晶片表面瑕疵检查,还可以检查例如:液晶玻璃、液晶屏幕、汽车玻璃、基材……表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。


半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯
半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯参数:

光 源:30W 高亮度进口LED加定制的光学镜片; LED平均寿命是30000小时
照度:距离40cm → 28万lx;距离30cm → 40万 lx
照射面积:  9-20cm直径的光圈 在40cm的距离(通过调焦距调光)
调光方式: 无极调光:从0% ~ 100%;
消耗功率:30 W
电源:调光器(输入110-240V,输出12-24V,2A),可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性: > 90 %

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