densoku涡流膜厚仪的原理分析
当带有高频电流的探头（探针线圈）靠近金属时，金属表面会产生涡流。
这种涡流受高频磁场的强度和频率、金属的导电性、厚度、形状等影响，穿透深度和大小不同。
然后涡流流动以抵消探头的高频磁场，改变探头的高频电阻值。
这种高频电阻变化的幅度一般与膜厚值不成正比。
通过参考内置或用户创建的特性曲线（校准曲线）转换为薄膜厚度值。
涡流膜厚测试仪特点
几乎可以测量金属上的所有薄膜（铝、锌、铬等上的氧化膜，铁上的电镀和涂漆）
或非金属上的几乎所有金属薄膜（塑料上的电镀等）。
非常适合 检查，因为它可以在短时间内（1 秒内）进行非破坏性测量。
也可以测量曲面、球面、管道内表面（φ12.7 mm或更大）。
使用示例
测量树脂上的铝薄膜。示例：应用于汽车前照灯反射器的铝沉积（从 100 纳米起）的质量控制。
铝上氧化铝膜厚度测量
铁上镀锌的膜厚测量（与荧光X射线膜厚仪结合使用）
陶瓷镀镍的厚度测量
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