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作者：admina来源：时间：2022-11-10 17:48:13浏览量：756人阅读
高温四探针电阻率测试仪
一.概述：
采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制，解决半导体材料的电导率对温度变化测量要求，软件实时绘制出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线图谱，及过程数据值的报表分析.
二.适用行业：:
用于：企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.
双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
三.型号及参数：
标准：GB 1550 硅单晶导电类型测定方法
GB/T 1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
GB 5256 锗单晶导电类型测量方法
HX-700牧草水分计
PM1703M和PM1703MA和PM1703MB 个人辐射检测仪
JG6000-CO彩屏泵吸式一氧化碳检测仪
JG3000-F2 氟气检测仪
BS71 660A多功能交流钳表
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CB-832断路器测试仪
JG8000-N2 氮气分析仪
PAT120手持便携式电气设备测试仪
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DP-360VM 数显角度水平仪
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