带A/B扫描功能的超声波测厚仪CMXDL+
资料下载-多功能超声波测厚仪CMXDL+
美国DAKOTA公司CMXDL+多功能超声波测厚仪,带A/B扫描功能,可测量材料的厚度,穿透涂层测量材料厚度,也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置,以获得更好的性价比。
标准版为灰度显示屏,可选彩屏版。
- 100MHz FPGA时序电路设计
可选彩色和灰度显示屏
A/B扫描
手动调节增益和自动增益控制 (AGC),范围:110dB
自动时间相关增益(TDG)
多种测量模式
脉冲-回波(P-E)模式:测量材料厚度
脉冲-回波涂层(PECT)模式:同时测量材料和涂层厚度
脉冲-回波温度补偿(PETP)模式:测量材料厚度
回波-回波(E-E)模式:穿过涂层测量材料厚度
回波-回波验证(E-EV)模式: 穿过涂层测量材料厚度
测量涂层(CT)模式:只测量涂层厚度
可接双晶探头和单晶探头(包括延迟块探头、接触式探头、笔形探头)
USB Type-C数据接口
内置4GB SD存储卡
多功能超声波测厚仪CMXDL+
技术参数
测量
脉冲-回波(P-E)模式测量范围:0.63mm~30.48m(钢)
脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围:0.63mm~30.48m(钢),0.0254~2.54mm(涂层)
脉冲-回波温度补偿(PETP)模式 测量范围:0.63mm~30.48m(钢)
回波-回波(E-E)模式测量范围:2.54~152.4mm(钢,穿过涂层测量,随涂层厚度的不同,测量范围也会变化)
回波-回波验证(E-EV)模式测量范围:2.54~102mm(钢,穿过涂层测量,随涂层厚度的不同,测量范围也会变化)
测量涂层(CT)模式测量范围:0.0127~2.54mm(涂层)
分辨率:0.01mm
声速范围:309.88~18542m/s
单位:公制或英制
校准:一点和两点校准方式
显示
显示屏:1/8英寸VGA灰色显示,240x160象素。可视区62x45.7mm,EL背光;可选1/4英寸彩色显示屏,320x240象素
A-扫描方式:检波+/-(缺陷视场),RF(全波视场)。刷新频率25Hz/60Hz(彩色显示屏)。纵向和横向视图(彩色显示屏)
B-扫描方式:基于时间的横截面视图。 显示速度为每秒10到200个读数
大数字方式:标准厚度显示,数字高度17.78mm/14.35mm(彩色显示屏)
厚度条形扫描:速度10Hz,在B-扫描和大数字显示中可见
稳定度指示:表示测量值的稳定性
功能状态指示:显示当前激活的功能
超声波参数
测量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脉冲:可调方波脉冲发生器
接收:根据选择模式在110dB范围内采用手动或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可调
计时:单次100MHz8位超低功耗数字化仪的精确TCXO计时
脉冲重复频率:250Hz
探头
频率范围:1~20MHz
双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔式)
LEMO接口,1.2米探头线
可定制用于特殊应用的探头
存储
容量:内置4GB SD卡
数据结构:网格(字母数字)和顺序(自动识别)
截屏功能:位图图形捕获,用于快速记录
数据输出:通过USB Type-C连接的计算机